中国分析测试协会成立30周年2016年12月9日，中国分析测试协会成立30周年庆祝大会在北京召开
来自国家科技部、国家质检总局、国家认监委的相关领导，金国藩院士、朱静院士、张泽院士、张玉奎院士、江桂斌院士、张学敏院士、庞国芳院士、柴之芳院士等众多专家学者，中国光学学会、中国环境科学学会、中国仪器仪表学会、中国计量测试学会、中国仪器仪表行业协会、中国标准化协会、中国出入境检验检疫协会等社会团体负责人，以及相关企业、媒体等分析测试行业各界人士欢聚一堂，共同参加了庆祝活动
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