根分叉病变疾病症状正常情况下，根分叉区被牙槽骨间隔充满着，从龈沟内是探不到根分叉区的，一旦牙周破坏波及根分叉区，便可从临床上探查到根分叉

主要根据探诊和X线片来判断根分叉病变的程度

一、Glickman将其分为四度，此种分类方法有利于指导治疗和判断预后

I度：属于病变早期

分叉区内的骨质吸收很轻微，虽然从牙周袋内已能探到根分叉的外形，但尚不能水平探入分叉内，牙周袋属于骨上袋

由于骨质吸收轻微，通常在X线片上看不到改变，主要靠临床探诊发现

II度：在多根牙的一个或一个以上的根分叉区内已有骨吸收，但因为分叉区内尚有未吸收的牙槽骨，使病变尚未与对侧相同

用牙周探针可从水平方向部分地进入分叉区内

X线片一般仅显示分叉区的牙周膜增宽，或骨质密度有小范围的降低

III度：根分叉区内的牙槽骨全部吸收，形成“贯通性”病变，探针能水平探入分叉区与另一侧相同，但它仍被牙周袋软组织所覆盖而未直接暴露于口腔

下颌磨牙的III度病变在X线片上可见完全的透影区，但有时会因牙根互相靠近或与外斜线的重叠而使病变不明显，上颌的病变则易与腭根影像重叠而不明显

III度病变处也可存在垂直型的骨吸收

IV度：根间骨隔完全破坏，且牙龈退缩而使病变的根分叉区完全暴露于口腔中

X线片所见与III度病变相似

二、另一种分类法是Hamp等提出的，它根据水平探诊根间骨破坏的程度来分类

I度：用探针能水平探入根分叉区，探入深度未超过牙齿宽度的1/3

II度：根分叉区骨质的水平性破坏已超过牙宽度的1/3，但尚未与对侧贯通

III度：根分叉区骨质已有“贯通性”的破坏

探针已能畅通

上颌磨牙的颊侧以及下颌磨牙的颊、舌侧根分叉一般较易探查，但上颌磨牙邻面的根分叉病变较难探测，可用弯探针从上颌磨牙的腭侧进入，分别探测近中腭分叉及远中腭分叉

但临床探诊难以准确区分II度和III度病变，需在翻瓣术中确诊，X线片只能起辅助作用

总的来说，X线片所见的FI病变总是比临床实际要轻些，这是因为投照角度、组织影像重叠所致

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