接触电阻 低电考虑到接触件膜层在高接触压力下会发生机械击穿或在高电压、大电流下会发生电击穿
对某些小体积的连接器设计的接触压力相当小，使用场合仅为mV或mA级，膜层电阻不易被击穿，可能影响电信号的传输
故国家标GJB1217-91电连接器试验方法中规定了两种试验方法
即低电平接触电阻试验方法和接触电阻试验方法
其中低电平接触电阻试验目的是评定接触件在加上不能改变物理的接触表面或不改变可能存在的不导电氧化簿膜的电压和电流条件下的接触电阻特性
所加开路试验电压不超过20mV，而试验电流应限制在100mA，在这一电平下的性能足以满足以表现在低电平电激励下的接触界面的性能
而接触电阻试验目的是测量通过规定电流的一对插合接触件两端或接触件与测量规之间的电阻，而此规定电流要比前者大得多，通常规定为1A
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