霍尔效应传感器历史这一现象是霍尔（A.H.Hall，1855—1938）于1879年在研究金属的导电机构时发现的
后来发现半导体、导电流体等也有这种效应，而半导体的霍尔效应比金属强得多，利用这现象制成的各种霍尔元件，广泛地应用于工业自动化技术、检测技术及信息处理等方面
霍尔效应是研究半导体材料性能的基本方法
通过霍尔效应实验测定的霍尔系数，能够判断半导体材料的导电类型、载流子浓度及载流子迁移率等重要参数
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