掠射角掠射角x射线衍射法掠射角x射线衍射法glancing angle x-ray diffraction采用T掠射角几何条件(人射角;s0)的x射线衍射法
以掠射角人射的x射线束的穿透力被限制，大大提高了分析样品的表面分析灵敏度，且能分析体积相对较大的样品，甚至薄层分析也成为可能
该技术适用于特殊晶相的识别，微晶方位及其尺寸分布的研究，吸附原子位置的测定;与电子衍射法相比_具有较高的角分辨率
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